1. Марка — Solver Smena-P47H.
  2. Производитель/страна — НТ-МДТ, Россия.
  3. Технические характеристики
    • Разрешение по вертикали — лучше, чем 0,08 нм.
    • Латеральное разрешение зависит от размера зонда (~10нм) и высоты рельефа поверхности.
    • Максимальный размер поля сканирования — 40×40 мкм2.
    • Для работы в атмосферных условиях.
    • Для больших пластин.
    • Поддерживается зондовая литография.
    • Поддерживается измерение распределения по поверхности:
      • электростатического потенциала,
      • кулоновского заряда,
      • электрической емкости ( в относительных единицах),
      • намагниченности,
      • твердости,
      • силы трения.
  4. Местонахождение в ЦКПОтделение зондовой микроскопии, к. 107.
  5. Год модернизации — 1999.
  6. Балансовая стоимость — 2074 тыс. руб.
  7. Нормативная стоимость часа работы с учетом амортизации — 4707 руб.
  8. Нормативное (среднее) количество обработанных образцов в час — 1.
  9. Предоставляемые услуги
    • Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне.
    • Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии.
    • Cоздание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию.
  10. Используемые методики
    • Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью мер нанометрового диапазона.
    • Методика измерений распределения электростатического потенциала по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений распределения электростатического заряда по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений распределения производной емкости (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений распределения намагниченности (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений микротвердости (в относительных единицах) поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика измерений распределения трения (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
    • Методика модификации поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.