Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
ИНСТИТУТ ФИЗИКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ ИМ. А.В. РЖАНОВА
Сибирского отделения Российской академии наук
НОВОСТИ
29.05.15
Семинар ЗАО "Научное оборудование"

ЗАО «Научное оборудование» проподит семинар «Испытания на отказоустойчивость микроэлектронных устройств и исследование
механизмов отказов полупроводниковых устройств на пластине и в корпусе на базе оборудования Cascade Microtech» с участием представителей компании-изготовителя.

Семинар состоится конференц-зале адмнистративного корпуса ИФП СО РАН.
Дата и время проведения семинар: 2 июня 2015 года, 10:00
Место проведения: Пр-т Ак.Лаврентьева, 13, 3 этаж.

Программа семинара будет включать следующие темы:

  • Решения компании Cascade Microtech в испытания на отказоустойчивость микроэлектронных устройств и исследований механизмов отказов полупроводниковых устройств как на пластинах, так и для корпусированных элементов (электромиграции (Electromigration (EM)), временной диэлектрический пробой (Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB)), температурная нестабильность напряжения обратного смещения (Negative Bias Temperature Instability (NBTI)) и инжекция горячих носителей (Hot Carrier Injection (HCI)); Докладчик: STEFFEN DIETER GRUER, Cascade Microtech (Германия)
  • Комплексные решения компании Cascade Mirotech и Keysight Technologies в области измерений и характеризации полупроводниковых устройств на пластине; Докладчик: STEPHEN MARK SCHULTZ, Cascade Microtech (США)
  • Параметрические характериографы Keysight Technologies и их применение совместно с зондовыми станциями Cascade Microtech в рамках программы Wafer Measurement Solution, программное обеспечение Keysight Wafer pro express; Докладчик: А.Е. Войскойвский, ЗАО «Компания НТНК» (Москва)
  • Анализ ВЧ/СВЧ устройств на пластине, измерение нелинейных параметров активных устройств с применением векторных анализаторов электрических цепей серии PNA и PNA-X в рамках программы Wafer Measurement Solution. Докладчик: Е.В. Андронов, Keysight Technologies (Томск).

Участие в данном семинаре позволит познакомиться с современными мировыми методами тестирования микроэлектронных устройств, провести короткие встречи с инженерами компаний
Cascade Microtech и Keysight Technologies, а также узнать больше о возможностях оборудования этих производителей и повысить эффективность его использования.