10-14 октября 2011 г. в Институте физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения РАН будет проходить комплексная проверка.
Заседание Ученого совета ИФП СО РАН намечено на 12 октября 2011 года

Члены комиссии:

Орликовский А.А. - академик, ФТИ РАН, Москва, председатель
Кузнецов Ф.А. - академик, ИНХ СО РАН, зам. председателя
Карпушин А.А. - к.ф.-м.н., УОНИ СО РАН, секретарь
Хохлов Д.Р. - академик, МГУ им. М.В. Ломоносова, Москва
Шабанов В.Ф. - академик, ИХХТ СО РАН, Красноярск
Копьев П.С. - чл.-к. РАН, ФТИ им. А.Ф. Иоффе, Санкт-Петербург
Сибельдин Н.Н. - чл.-к. РАН, ФИАН, Москва
Лукичев В.Ф. - д.ф.м.н., ФТИ РАН, Москва
Ю Юде (Yu Yude) - профессор, Институт полупроводников АН КНР, Пекин
Байцурова И.С. -УБУО СОРАН
Белякова Н.В. - ОрО СО РАН
Задорожный В.М. - к.г.-м.н., УОНИ СО РАН
Варакута В.Н. - ПФУ СО РАН
Ишутенко B.C. - Спецотдел СО РАН
Князев А.В. - помощник председателя СО РАН
Ковалева В.Я. - УК СО РАН
Кунгурцева Н.А. - ЮрО СО РАН
Мироненко Н.Д. - УИЗР СО РАН
Михеев В.П. - к.т.н., СГИ СО РАН
Разум Е.С. - КРУ СО РАН
Фомин В.И. - к.т.н., ЦОТРЭБ СО РАН

Распоряжение Президиума СО РАН № 15000-516 от 14.09.2011 г. О комплексной проверке ИФП СО РАН