26 апреля 2017 г. в ИФП СО РАН состоялся семинар Группы компаний НТ-МДТ Спектрум Инструментс.
С докладами выступили сотрудники компании:
- Виктор Быков «Сканирующая зондовая микроскопия и спектроскопия - динамика развития методов»
- Вячеслав Поляков «Новые методы СЗМ для исследования свойств поверхности»
- Артём Шелаев «Приборные решения для интеграции зондовых и оптических спектральных методов»
- Евгений Лисов «Тенденции развития микромеханических комплектующих для АСМ. Новые модели АСМ кантилеверов и образцов»