26 апреля 2017 г. в ИФП СО РАН состоялся семинар Группы компаний НТ-МДТ Спектрум Инструментс.

С докладами выступили сотрудники компании:

  • Виктор Быков «Сканирующая зондовая микроскопия и спектроскопия - динамика развития методов»
  • Вячеслав Поляков «Новые методы СЗМ для исследования свойств поверхности»
  • Артём Шелаев «Приборные решения для интеграции зондовых и оптических спектральных методов»
  • Евгений Лисов «Тенденции развития микромеханических комплектующих для АСМ. Новые модели АСМ кантилеверов и образцов»