События

Во вторник, 14 мая, в 15 часов в конференц-зале Административного корпуса состоится защита диссертации...

Веб-трансляция

В среду, 24 апреля 2024 г., в 14-00 в актовом зале админ. корпуса состоится
Торжественное заседание Ученого совета, посвященное 60-летию Института физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН.
04.04.24
Конкурс научных работ ИФП 2024 года будет проходить 8 и 9 апреля в конференц зале АК
В понедельник, 1 апреля 2024 г., в 15-00
в конференц-зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.
Федерального государственного бюджетного учреждения науки Института физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук
15 марта 2024 года.
В понедельник, 4 марта 2024 г., в 15-00
в конференц-зале АК состоится Заседание Ученого совета ИФП СО РАН.

Объявления

Во вторник, 12.03.2024 в 10 ч.
в конференц-зале Административного корпуса состоится Институтский семинар

Во вторник, 20.02.2024 в 10 ч.
в конференц-зале Административного корпуса состоится Институтский семинар

В среду, 14.02.2024 в 15 ч.
состоится открытый онлайн-семинар ИФП СО РАН, на котором будет представлен обзорный доклад В. Д. Лахно “ДНК-нанотехнологии и нанобиоэлектроника”.

В четверг, 1.02.2024 в 15 ч.
в конференц-зале Административного корпуса состоится Институтский семинар

В среду, 24.01.2024 в 10 ч.
в конференц-зале Административного корпуса состоится Институтский семинар

27.12 в 15:00 в конференционном зале ТК планируется семинар лаб.№3.
В среду, 7 июня, в 15:00 в конференц-зале Термостатированного корпуса состоится семинар...

В среду, 7 июня, в 15:00 в конференц-зале Термостатированного корпуса состоится семинар.

В.А. Голяшов

Электронная структура поверхности и электрофизические свойства трехмерных топологических изоляторов
на основе халькогенидов и халькогалогенидов висмута и сурьмы

(по материалам диссертации)

Работа посвящена изучению физическо-химических, электрофизических и электронных свойств объема и поверхностей скола монокристаллов трехмерных топологических изоляторов на основе твердых растворов халькогенидов висмута и сурьмы BixSb2-xTeySe3-y и полупроводника с гигантским расщеплением Рашбы BiTeI. Экспериментально и теоретически показана инертность поверхности скола монокристаллов Bi2Se3 к окислению. Предложен и реализован метод получения кристаллов Bi2Te3 и BixSb2-xTe3 со встроенным p-n переходом. Изучены условия формирования гетерограницы Рашбовский полупроводник – трехмерный топологический изолятор на поверхности (0001) BiTeI при прогреве в вакууме.