В четверг 27 мая 2010 г. в 10-00 в конференц-зале административного корпуса состоится институтский семинар.
Сысоев Евгений Владимирович (Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения РАН) выступит с докладом Измерение микро- и нанорельефа поверхности методами низкокогерентной интерферометрии (кандидатская диссертация)
Специальность 01.04.05 "Оптика" - технические науки
Рецензент - к.ф.-м.н. Федина Людмила Ивановна