Состав отделения:

Щеглов Кожухов

  • Руководитель - c.н.с., к.ф.-м.н. Щеглов Д.В., к.107, т.(383)3309082, Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
  • м.н.с. Кожухов А.С.
  • инженер К.Н. Астанкова

Основное направление активности - исследование, измерение и модификация поверхностей металлов, полупроводников, диэлектриков и биологических объектов методами атомно-силовой микроскопии.


Отделение предоставляет следующие услуги:

  • Проведение измерений линейных размеров элементов структур микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и биологических объектов в нанометровом диапазоне,
  • Исследование морфологии и структуры поверхности твердотельных структур и оперативный контроль атомарных поверхностей методами сканирующей туннельной, атомно-силовой и электронной микроскопии.
  • Создание структур пониженной размерности для наноэлектроники и наномеханики на основе комплекса литографических методов включающих электронную, ионно-лучевую и зондовую литографию.

Для проведения экспериментов в отделении разработаны и внедрены следующие методики:

  • Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
  • Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности конденсированных сред с помощью мер нанометрового диапазона.
  • Методика трехмерных измерений линейных размеров элементов структур микро и нанорельефа поверхности биологических объектов с помощью жидкостной ячейки.
  • Методика измерений распределения электростатического потенциала по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
  • Методика измерений распределения электростатического заряда по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
  • Методика измерений распределения производной емкости (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
  • Методика измерений распределения намагниченности (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
  • Методика измерений микротвердости (в относительных единицах) поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
  • Методика измерений распределения трения (в относительных единицах) по поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.
  • Методика модификации поверхности конденсированных сред с помощью сканирующего зондового микроскопа фирмы NT MDT.

Услуги предоставляются отделением с использованием следующего оборудования: